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產品簡介：廣角激光光散射儀采用TurboCorr數字相關器，通過動態光散射的方法可以測量小至1nm的納米顆粒分布情況，通過靜態光散射的方法可測量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲線、分子量、均方根回旋半徑及第二維里系數。經國內外眾多實驗室使用，證明BI-200SM是研究聚合物、膠束、微乳液以及復雜溶液等體系理想的測試儀器。

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· Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀

產品簡介： Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結合了背向光散射技術與傳統動態光散射技術以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術，擁有15°、90°與173°三個散射角度，突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性，硬件PALS技術解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測量，是一

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· 多角度激光散射儀

多角度激光散射儀技術參數：分子量測量范圍 500～109 Dalton 分子尺寸測量范圍 10～1000nm 散射體積 20nL 體積樣品池100μL 背壓最大3.5MPa（500psi）角度

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· 圓盤式離心/沉降粒度儀

產品簡介： BI-DCP是基于經典的離心/沉降原理，通過高精度的數字式電機控制，是分辨率和準確率優越的粒度儀。廣泛應用于膠乳、碳黑、陶瓷和金屬粉末等行業的質量控制方面。詳細說明：工作原理重力或者離心力使得懸浮在樣品轉盤腔內的顆粒可以產生沉降或離心運動。大顆粒運動較快，小顆粒運動較慢，隨著時間的增加，大小顆粒自然分級并依次通過

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· 多角度粒度測試儀

簡單介紹: 173Plus多角度粒度測試儀結合了背向光散射技術與傳統動態光散射技術，擁有15°、90°與173°三個散射角度，突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性，實現在同一臺粒度分析儀中，即可以同時兼顧大、小顆粒的散射光信號，又可以有效地提高了測量濃度上限，是一款功能強大的粒度分析儀。詳細說明： Brookhaven公司應用光纖技術將背向光散射技術與傳統動態光散射技術

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· 高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀

產品簡介： 90Plus PALS高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀是目前能夠精確測量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器，它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技術，比其它測量Zeta電位的技術靈敏度高約1000倍！詳細說明： NanoBrook產品系列項目

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