在科研和工業生產的眾多領域中，對微觀粒子表面電荷特性的精確測量是至關重要的。然而，傳統的測量手段在面對低電泳遷移率體系時，往往力不從心，難以滿足高精度測量的需求。正是在這樣的背景下，高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀應運而生，以其杰出的性能和精確度，成為了當前測量低電泳遷移率體系Zeta電位的選擇工具。

　　高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀結合了電泳原理和光散射技術，實現了對微觀粒子表面電荷特性的高精度測量。通過測量帶電顆粒或分子在電場下的電泳運動速度和方向，該儀器能夠推算出顆粒或分子表面的電荷密度和電位。此外，其采用的硬件PALS（相位分析光散射）技術，相較于傳統的電泳法，具有更高的靈敏度，能夠在低介電常數、高粘度、高鹽度以及等電點附近等復雜測量條件下，準確檢測出樣品的Zeta電位。

　　除了精確的Zeta電位測量，該儀器還具備出色的粒度分析能力。其粒度檢測原理基于動態光散射（DLS）法，可檢測范圍廣泛，從幾納米到數十微米不等，適用于不同尺寸的顆粒及其混合物的分析。這一功能使得科研人員能夠更全面地了解樣品的粒度分布和表面電荷特性，為深入研究物質性質提供了有力支持。

　　值得一提的是，該儀器的操作簡便快捷，無需過多的專業知識和技能。同時，其測量速度快，通常只需數分鐘即可完成一次測量，大大提高了科研效率。此外，該儀器還具備多樣品自動連續測量的能力，進一步滿足了科研和工業生產中的大規模測量需求。

　　綜上所述，高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀以其杰出的性能和精確度，成為了當前測量低電泳遷移率體系Zeta電位的創新工具。在未來的科研和工業生產中，它將發揮更加重要的作用，推動相關領域的技術進步和創新發展。

　　最后，展示一組高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀的外觀圖片，以便您更好地了解它！